Probe EN3探頭
上海雙旭Probe EN3探頭產(chǎn)品概述
EN3探頭是上海雙旭研發(fā)的一款專業(yè)檢測(cè)工具，適用于工業(yè)環(huán)境中的精密測(cè)量需求。該產(chǎn)品采用模塊化設(shè)計(jì)，可適配多種檢測(cè)設(shè)備，在電子元器件、材料分析等領(lǐng)域具有廣泛適用性。
核心特點(diǎn)
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精度控制：通過優(yōu)化傳感結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)微米級(jí)測(cè)量穩(wěn)定性，減少環(huán)境干擾帶來的數(shù)據(jù)波動(dòng)。
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耐久設(shè)計(jì)：主體采用特種合金材質(zhì)，配合防腐蝕涂層工藝，延長(zhǎng)在復(fù)雜工況下的使用壽命。
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兼容性強(qiáng)：支持多種信號(hào)接口協(xié)議，可快速接入主流檢測(cè)系統(tǒng)，降低設(shè)備更新成本。
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操作便捷：人性化握柄設(shè)計(jì)配合智能校準(zhǔn)功能，簡(jiǎn)化操作流程，提升工作效率。
典型應(yīng)用場(chǎng)景
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半導(dǎo)體晶圓厚度測(cè)量
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PCB板線路導(dǎo)通檢測(cè)
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精密機(jī)械部件尺寸校驗(yàn)
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實(shí)驗(yàn)室材料表面分析
服務(wù)支持
提供專業(yè)技術(shù)咨詢與定制化解決方案，可根據(jù)用戶實(shí)際需求調(diào)整探頭參數(shù)配置。
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