Probe ESD1探頭
上海雙旭Probe ESD1探頭是一款專為靜電檢測場景設(shè)計的精密測量工具，適用于電子元器件生產(chǎn)、半導體制造、實驗室研發(fā)等領(lǐng)域。該探頭結(jié)合了高靈敏度檢測技術(shù)與智能化功能設(shè)計，可滿足用戶對靜電狀態(tài)快速、無損、高精度的測量需求。
一、核心功能特點
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雙模式測量機制
探頭支持接觸式與非接觸式兩種測量模式，可適配不同材質(zhì)表面的靜電檢測需求。接觸模式下通過高精度傳感器直接讀取數(shù)據(jù)，非接觸模式則采用電磁感應原理實現(xiàn)無接觸式測量13。
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智能數(shù)據(jù)管理
內(nèi)置存儲模塊可記錄500組測量數(shù)據(jù)，支持平均值、最大值、最小值等統(tǒng)計功能，并可通過直方圖直觀分析數(shù)據(jù)分布趨勢。用戶可通過設(shè)備界面或外接設(shè)備導出數(shù)據(jù)，便于長期跟蹤與報告生成1。
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動態(tài)閾值報警
支持自定義靜電閾值范圍，當檢測值超出預設(shè)區(qū)間時，設(shè)備會自動觸發(fā)聲光報警，有效輔助現(xiàn)場操作人員及時干預異常情況1。
二、技術(shù)參數(shù)表現(xiàn)
- 測量范圍：覆蓋0.1kV至20kV的寬量程設(shè)計，分辨率達0.01kV，滿足從微靜電到高壓靜電的檢測需求。
- 響應速度：毫秒級動態(tài)響應能力，可捕捉瞬態(tài)靜電變化。
- 環(huán)境適應性：工作溫度范圍-10°C至50°C，適用于工業(yè)現(xiàn)場復雜工況53。
三、典型應用場景
- 電子制造業(yè)：用于電路板組裝、芯片封裝等環(huán)節(jié)的靜電防護監(jiān)測，防止靜電擊穿敏感元件。
- 材料研發(fā)：檢測高分子材料、薄膜等產(chǎn)品的表面靜電特性，優(yōu)化生產(chǎn)工藝。
- 實驗室檢測：配合專業(yè)儀器完成靜電消散、電荷分布等科研實驗13。
該探頭采用人體工學設(shè)計，配備防滑握柄和直觀的LCD顯示屏，操作便捷性顯著。通過模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計，還可擴展連接上位機軟件，實現(xiàn)多探頭協(xié)同測量或遠程監(jiān)控功能5。
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