31WIIA二米平面光柵攝譜儀
以下是上海雙旭31WIIA二米平面光柵攝譜儀的產(chǎn)品介紹，整合了公開資料的核心信息：
產(chǎn)品概述
上海雙旭電子有限公司供應(yīng)的31WIIA二米平面光柵攝譜儀，是一款專注于光譜分析的高精度設(shè)備。其設(shè)計(jì)適用于金屬合金（包括礦物）、純金屬及各類材料的成分檢測，支持日常定性定量分析任務(wù)，并能配合附件拓展激光微區(qū)分析等功能124。
核心參數(shù)與性能特點(diǎn)
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光學(xué)系統(tǒng)
- 工作波段：覆蓋200-1000nm，兼容紫外至近紅外光譜范圍，滿足多元素分析需求。
- 焦距與孔徑：焦距2100mm，相對(duì)孔徑1:28，優(yōu)化了光通量和分辨率平衡。
- 光柵配置：配備雙光柵系統(tǒng)，包括1200條/mm（2塊）及600條/mm（1塊）光柵，支持靈活切換以適應(yīng)不同精度要求14。
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精密機(jī)械結(jié)構(gòu)
- 狹縫設(shè)計(jì)：寬度調(diào)節(jié)范圍0.002-0.3毫米，分度值達(dá)0.001毫米，支持微米級(jí)精度控制，確保光譜清晰度。
- 穩(wěn)定性：二米長焦距結(jié)構(gòu)結(jié)合剛性基座，減少環(huán)境振動(dòng)干擾，保障長期測試一致性4。
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應(yīng)用擴(kuò)展性
- 通過搭配專用附件，可拓展至激光微區(qū)分析、瞬態(tài)閃光現(xiàn)象記錄及弱光信號(hào)捕捉等場景，適應(yīng)科研與工業(yè)復(fù)雜需求24。
典型應(yīng)用領(lǐng)域
- 材料成分分析：快速鑒定金屬合金中的元素組成及雜質(zhì)含量。
- 礦物研究：輔助地質(zhì)樣品的光譜特征解析。
- 工藝質(zhì)量控制：用于冶金、機(jī)械制造等行業(yè)的原材料與成品檢測12。
功能優(yōu)勢總結(jié)
該設(shè)備通過長焦距光路設(shè)計(jì)和高精度光柵組合，實(shí)現(xiàn)了寬波段、高分辨率的光譜采集能力。其模塊化結(jié)構(gòu)便于功能擴(kuò)展，適用于從常規(guī)實(shí)驗(yàn)室分析到前沿科研的多層次需求，為材料科學(xué)、工業(yè)質(zhì)檢等領(lǐng)域提供可靠的數(shù)據(jù)支撐14。
注：以上描述基于公開技術(shù)參數(shù)與應(yīng)用案例，未涉及廣告禁用詞匯及認(rèn)證信息。產(chǎn)品具體性能可能因配置調(diào)整，建議參考制造商最新技術(shù)文檔。
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